Element™ Series
Free your trace elemental analysis from interferences
Element 2 & Element XR HR-ICP-MS
เครื่อง ICP-MS ความละเอียดสูง ใช้เทคโนโลยี Double Focusing Magnetic Sector แยกสัญญาณของธาตุออกจากตัวรบกวนด้วยความละเอียดของมวล ไม่ต้องพึ่งก๊าซทำปฏิกิริยา ให้ความไวสูง และวัดอัตราส่วนไอโซโทปได้อย่างเที่ยงตรง
แยกตัวรบกวนด้วยความละเอียด ไม่ใช่ด้วยเคมี
Element™ Series เป็นเครื่อง HR-ICP-MS ที่ใช้ตัววิเคราะห์มวลแบบ Double Focusing Magnetic Sector แยกสัญญาณของธาตุออกจาก Spectral interference ได้โดยตรง ให้ความไวที่ยอดเยี่ยม S/N ที่ดี และได้รับผลกระทบจากเมตริกซ์น้อยมาก ตั้งแต่งานวิจัยระดับสูงไปจนถึงงานควบคุมการผลิตตลอด 24/7
- วิเคราะห์หลายธาตุด้วยเมทอดเดียว ตั้งแต่ระดับ mg/L ลงถึง sub-pg/L
- กำจัด Interference โดยไม่ต้องใช้ก๊าซทำปฏิกิริยา
- วัดอัตราส่วนไอโซโทปได้แม่นยำ เกือบทั้งตารางธาตุและทุกเมตริกซ์
- เชื่อมต่อ Laser Ablation, HPLC, GC, CE และ FFF สำหรับสัญญาณชั่วขณะได้
3 องค์ประกอบหลักของ HR-ICP-MS
การทำงานแบบประสานกันของส่วนนำไอออน ตัววิเคราะห์มวลแบบ Magnetic Sector และตัวตรวจวัด
Sample Introduction & Interface
Sensitivity from the Startรองรับตัวอย่างของเหลว เช่น น้ำ สารละลายย่อย กรด ตัวทำละลาย และตัวอย่างของแข็งผ่าน Laser Ablation ใช้งานได้ทั้ง Hot และ Cold plasma มี Jet sample cone และ X skimmer cone เพิ่มความไวได้ราว 4–5 เท่าที่มวลต่ำ และ 2–3 เท่าที่มวลกลางถึงสูงใน Wet plasma*
Double Focusing Magnetic Sector
Resolution & Stabilityแยกสัญญาณของธาตุออกจาก Interference ด้วยความละเอียดของมวลสูงสุด R = 10,000 ปรับระหว่าง 3 โหมดด้วย Slit assembly ใน < 1 วินาที ให้ Magnet jump เร็ว (< 150 ms จาก ⁷Li ถึง ²³⁸U และกลับ) และ Mass drift ต่ำกว่า 25 ppm ใน 8 ชั่วโมง*
SEM & Faraday Detection
Wide Dynamic RangeElement 2 ใช้ Dual-mode SEM ให้ Dynamic range ตั้งแต่ต่ำกว่า 0.2 cps ถึงมากกว่า 10⁹ cps ส่วน Element XR เพิ่มตัวตรวจวัด Faraday ทำงานสลับอัตโนมัติ ขยาย Dynamic range เพิ่มอีกประมาณ 3 ลำดับ (> 10¹² cps)*
ผลลัพธ์ที่วัดได้จริง
3 ประโยชน์หลักของ Element™ Series สำหรับงานวิเคราะห์ธาตุที่ต้องการความแม่นยำสูงสุด
Resolved
กำจัด Interferenceแยกสัญญาณธาตุออกจากตัวรบกวนด้วยความละเอียดของมวล โดยไม่ต้องใช้ก๊าซทำปฏิกิริยา
- Low (non-interfered)R = 300
- MediumR = 4,000
- HighR = 10,000
Sensitive
ความไวในการตรวจวัดความไวอ้างอิง ¹¹⁵In ใน Dry plasma พร้อม Jet Interface*
- Wet plasma + Jet> 3 × 10⁶
- Dry plasma + Jet> 3–5 × 10⁷
- LOD ในสารบริสุทธิ์< 0.1 ng/L
Precise
อัตราส่วนไอโซโทปความเที่ยงตรงของ ²³⁵U/²³⁸U ใน CRM U010 (100 ng/g, Low resolution, n = 10)*
- Signal stability< 1% RSD / 10 นาที
- Long-term< 2% RSD / 1 ชม.
- Mass drift< 25 ppm / 8 ชม.
Multi-elemental Analysis และ Flexibility
Fast, Sensitive, Matrix-tolerant
ตรวจวัดหลายธาตุอย่างรวดเร็ว ครอบคลุมช่วงความเข้มข้นกว้าง
ประสิทธิภาพการตรวจวัดที่ละเอียดทำให้ได้รับผลกระทบจากเมตริกซ์น้อยมาก และวัดได้ตั้งแต่ช่วงพิโคกรัมต่อลิตรไปจนถึงมิลลิกรัมต่อลิตรด้วยเมทอดเดียว
- ตรวจวัดได้หลายธาตุและทำได้อย่างรวดเร็ว
- ความเร็วสนับสนุนการต่อพ่วงโครมาโทกราฟีของเหลวและก๊าซ รวมถึงเลเซอร์
- ความไวสูงและ S/N ที่ดี ได้รับผลกระทบจากเมตริกซ์น้อย
- วิเคราะห์ตัวอย่างน้ำทะเลได้ใน Dynamic range ราว 6 ลำดับ (จาก ppt ของ Co ถึง ppm ของ B)*
Isotopes the Easy Way
วัดไอโซโทปที่ถูกรบกวน และอัตราส่วนไอโซโทปที่เที่ยงตรง
ความละเอียดสูงทำให้วัดไอโซโทปที่วัดได้ยากเพราะถูกรบกวน และสร้างสเปกตรัมองค์ประกอบได้ชัดเจน พร้อมวัดอัตราส่วนไอโซโทปธาตุได้แม่นยำ
- วัดอัตราส่วนไอโซโทปความแม่นยำสูงในเกือบทั้งตารางธาตุ ไม่ขึ้นกับเมตริกซ์
- Cold plasma mode สำหรับงานบางประเภทในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์
- ตรวจจับอนุภาคนาโน Au และ Ag เดี่ยวขนาดต่ำกว่า 20 nm (ราว 6 nm)*
- เหมาะทั้งงานวิจัยและงานควบคุมการผลิตแบบ 24/7
Element 2 เทียบกับ Element XR
เลือกรุ่นตามช่วง Dynamic range และความต้องการด้านอัตราส่วนไอโซโทปของงานวิจัย
| คุณสมบัติ | Element 2 | Element XR |
|---|---|---|
| Catalog number | IQLAAMGADVFABWMAFC | IQLAAMGADVFABWMAFB |
| Analyzer | Double Focusing Magnetic Sector | |
| Resolution modes | R = 300 / 4,000 / 10,000 (สลับ < 1 วินาที) | |
| Detection | Dual-mode SEM | Triple-mode: SEM + Faraday |
| Dynamic range | < 0.2 cps ถึง > 10⁹ cps | ขยายถึง > 10¹² cps (เพิ่มประมาณ 3 ลำดับ) |
| Additional ion optics | — | Filter lens เพิ่มเติมและ ESA |
| Abundance sensitivity | — | ดีกว่า 7 ppm (²³⁷/²³⁸U, Low resolution) |
| Multi-element range | mg/L ถึง sub-pg/L | |
| Sample introduction | ของเหลว (Hot/Cold plasma) และ Laser Ablation (Dry plasma) | |
งานวิจัยและการวิเคราะห์ที่ Element Series ตอบโจทย์
Geoscience
ธรณีเคมี ธรณีกาล และ U-Pb dating เช่น อายุ GJ-1 zircon 613.2 ± 2.5 Ma*
Paleoclimate
วิเคราะห์ธาตุและไอโซโทปเพื่อศึกษาภูมิอากาศในอดีต
Environmental & Seawater
โลหะปริมาณน้อยในน้ำทะเลและสิ่งแวดล้อม วัดได้ต่ำถึง 0.1 pmol/kg*
Semiconductor
สารเคมีบริสุทธิ์สูง รวมถึงฟอสฟอรัสและซัลเฟอร์
Materials Science
วิเคราะห์วัสดุและสิ่งเจือปนระดับต่ำมาก
Nuclear Science
อัตราส่วนไอโซโทปของยูเรเนียมและธาตุกัมมันตรังสี
Nanoparticles
ตรวจจับอนุภาคนาโนเดี่ยวและศึกษาลักษณะเฉพาะ
Metrology & Routine
สถาบันมาตรวิทยาและห้องปฏิบัติการงานวิเคราะห์ขั้นสูง
จากตัวอย่างสู่ผลวิเคราะห์ในระบบเดียว
รองรับทั้งตัวอย่างของเหลว ตัวอย่างของแข็ง และเทคนิคต่อพ่วง
Sample
น้ำ กรด สารละลายย่อย ตัวทำละลาย หรือของแข็งด้วย Laser
Hyphenation
HPLC, GC, CE, FFF หรือ Laser Ablation (ถ้าต้องการ)
Plasma & Interface
Hot/Cold plasma พร้อม Jet และ X skimmer cone
Magnetic Sector
เลือก R = 300 / 4,000 / 10,000 ตามเมตริกซ์
Detection
SEM (Element 2) หรือ SEM + Faraday (Element XR)
ดาวน์โหลดเอกสารและสื่อเพิ่มเติม
สนใจ Element™ Series?
ทีมผู้เชี่ยวชาญของ SCISPEC พร้อมให้คำปรึกษาด้านการเลือกรุ่น Element 2 หรือ Element XR และการออกแบบระบบให้เหมาะกับงานวิจัยของคุณ
For research use only. Not for use in diagnostic procedures.