เครื่อง ICP-MS ความละเอียดสูง ใช้เทคโนโลยี Double Focusing Magnetic Sector ซึ่งได้พัฒนาให้สามารถใช้งานได้อย่างไม่ยากนัก โดยมีประสิทธิภาพการวิเคราะห์ที่ดีที่สุด เทคนิคนี้ทรงพลังสำหรับการวิเคราะห์บางรูปแบบของตัวอย่าง ร่วมกับ sensitivity ที่ยอดเยี่ยม และ S/N ที่ดี ทำให้ได้รับผลกระทบจากการรบกวนของเมตริกส์น้อยมาก การใช้ตัวตรวจวัดชนิด Faraday และ SEM จะทำให้ช่วง Dynamic range กว้างขึ้นอย่างชัดเจน
Multi-elemental Analysis
Flexibility and Accessibility